Obiekt

Tytuł: Refleksja w codzienności – perspektywa pedagogii osoby

PLMET:

kliknij tutaj, żeby przejść

Autor:

Starnawski, Witold

Abstrakt:

Punktem wyjścia, zarówno w klasycznie rozumianej filozofii, jak i w pedagogice, jest doświadczenie potoczne. Codzienność jest fenomenem ze świata ludzkiego, jego głównymi elementami są: monotonia, konkretność, bezpośredniość, obiektywność, rutyna, automatyzm. Refleksja sprawia, że codzienne procesy i zdarzenia przemieniają się w środowisko uczestnictwa i działania osoby. Obydwa typy refleksji: ontyczna i poznawcza – są ważne dla tworzenia osobowego poziomu życia. Człowiek w codziennym życiu zwykle nie zauważa wartości ze względu na brak uwagi i zbyt absorbującą aktywność. Negatywna strona codzienności przejawia się w bierności lub aktywizmie osoby oraz w jej upodobaniu do stabilizacji, zwyczajów i rutyny. Pozytywna strona – utwierdza realistyczne nastawienie, uwiarygadnia słowa, obietnice, deklaracje, daje trwałe fundamenty chroniące przed subiektywizmem, wątpliwościami, niepewnością. Refleksja w codzienności pozwala dostrzec głębszy poziom rzeczywistości niedostępny dla nieuważnej świadomości.

Miejsce wydania:

Wrocław

Wydawca:

Instytut Pedagogiki Uniwersytetu Wrocławskiego

Data wydania:

2017

Format:

application/pdf

Identyfikator:

oai:repozytorium.uni.wroc.pl:89338 ; ISBN 978-83-62618-31-6

DOI:

10.34616/22.19.215

Język:

pol

Powiązanie:

Codzienność jako wyzwanie edukacyjne, T. 2, s. 74-86

Prawa dostępu:

Regulamin korzystania z Biblioteki Cyfrowej Uniwersytetu Wrocławskiego

Licencja:

kliknij tutaj, żeby przejść

Właściciel praw:

© Copyright by Witold Starnawski

Lokalizacja oryginału:

Biblioteka Instytutu Pedagogiki UWr

Autor opisu:

h.w.

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

2020-11-04

Data dodania obiektu:

2018-01-24

Liczba wyświetleń treści obiektu:

38

Liczba wyświetleń treści obiektu w formacie PDF

53

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://repozytorium.uni.wroc.pl/publication/94669

Wyświetl opis w formacie RDF:

RDF

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

OAI-PMH (DC)

OAI-PMH (METS)

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji